如何基于YOLOv7模型对半导体缺陷进行检测，探究了不同超参数对模型性能带来的影响。我们通过实验发现，适当的调整超参数可以大大提高检测性能，特别是对于半导体线空间图案缺陷的精度。本文旨在为研究和开发者提供有关使用YOLOv7在半导体缺陷检测中的最佳实践，并帮助他们构建更准确和稳健的模型。