近年来，微处理器技术的飞速发展推动了电子测量领域的不断创新。本文聚焦于基于微处理器的频率特性测试设备的研究和开发，特别是在单片机应用方面取得了显著进展。通过深入分析频率特性测量的原理和方法，本文提出了一种高效可行的测试方案，并在实际工程中取得了良好的测试效果。论文详细介绍了测试设备的硬件设计和软件实现，强调了其在频率特性测量中的可靠性和精确性。该设备不仅满足了工程实践的需求，而且在相关领域具有广泛的应用前景。