氧离子束流密度对双束沉积ZrOx薄膜折射率的影响

首次报道了利用双离子束溅射技术制备ZrOx光学薄膜。研究了薄膜中氧锆原子比与沉积工艺参数的关系,并给出了相应的薄膜折射率变化规律。结合卢瑟福背散射(RBS), X射线光电子能谱(XPS), X射线衍射(XRD), 透射电子显微镜(TEM)等微观分析手段,确定了制备高质量ZrOx薄膜的最佳工艺参数。