ASIC设计流程和问题解决方案

第二章ASIC设计流程和设计方法

在设计一个ASIC时，我们常常会用到一些具体的描述语言和方法。比如，下面这段代码描述了一个简单的六位约翰逊计数器的输入输出关系：

count_out : OUT STD_LOGIC_VECTOR(0 TO 2) END counter;



ARCHITECTURE behav OF counter IS

signal next_count: STD_LOGIC_VECTOR(2 DOWNTO 0)

BEGIN

IF rs = THEN

CQunt out <= ELSEIF rs = ‘1' AND prisig (clk) THEN

CASE count_out (0 TO 2) IS

WHEN ‘000' => next_count <= ‘001';

WHEN ‘001' => next_count <= ‘011';

WHEN ‘011' => next_count <= ‘111';

WHEN ‘111' => next_count <= ‘110';

WHEN ‘110' => next_count <= ‘100';

WHEN ‘100' => next_count <= ‘000';

END CASE;

count out <= next count AFTER 10ns;

END IF;

END PROCESS;

END behav;

这个代码的主要功能是在不同的时钟周期内，按顺序生成特定的输出信号。你可以通过ASIC逻辑综合及Synopsys DC了解更多相关内容。

在逻辑综合过程中，我们需要设置一些约束条件，这包括芯片面积、延时、功耗和可测性等。这些约束条件不仅帮助我们在综合和优化设计时实现预期的控制目标，还能确保输出结果与工艺映射相匹配。一个设计目标是将设计转换成门级电路时要加入约束条件，使得逻辑优化达到最佳效果。通常，这些条件以等效门为测量单位，比如max_area 3000表示综合优化的门面积不超过3000个等效门。更多关于逻辑综合的详细信息，可以参考高级ASIC芯片综合。

设计ASIC时，还涉及许多其他方面，如数字逻辑电路的ASIC设计和ASIC设计约束与SDC命令优化。这些资源可以帮助你更好地理解和掌握ASIC设计的各种技术和方法。你是否也对如何优化ASIC设计过程充满了好奇？探索这些链接，也许会让你豁然开朗！