第20章JTAG/测试支持

20.1 概述

MPC8349E提供了一个JTAG（联合测试行动小组）接口以方便边界扫描测试。JTAG接口符合IEEE 1149.1边界扫描标准。有关JTAG操作的信息，参考IEEE 1149.1标准。JTAG接口由5个信号、3个JTAG寄存器（参见20.3节“JTAG寄存器与扫描链”）和一个测试访问口（TAP）控制器组成，这将在下面的几节中描述。

20.2 JTAG信号

MPC8349E提供以下5个专用的JTAG信号：

  • 测试数据输入（TDI）

  • 测试数据输出（TDO）

  • 测试模式选择（TMS）

  • 测试复位（TRST）

  • 测试时钟（TCK）

TDI和TDO信号用来向JTAG扫描寄存器输入和输出指令和数据。TAP控制器利用从TMS信号来控制JTAG状态机的状态。想更深入了解JTAG边界扫描的工作原理吗？可以查看这个详细介绍。

JTAG技术不仅仅是理论知识，它在实际应用中也是大显身手。JTAG边界扫描技术的研究，深入剖析了它在各种测试中的具体应用和实现方式。如果你对JTAG边界扫描技术感兴趣，建议你看看这篇关于JTAG边界扫描技术的研究，相信会对你的理解大有帮助。

有时，理解JTAG边界扫描的最佳方式是通过实际案例，比如JTAG边界扫描在FPGA中的应用及电路设计，这不仅展示了技术的应用场景，还提供了实用的设计思路。通过这些案例，你会发现，JTAG边界扫描技术在实际电路设计中的作用不可小觑。

如果你正面临BGA和互连的测试难题，用JTAG边界扫描测试电路板BGA和互连这篇文章或许能给你提供一些实用的解决方案。你不仅能全面了解JTAG边界扫描技术，还能学会如何在实际应用中有效利用这一技术。

对于那些对PLD进行边界扫描故障诊断感兴趣的读者，这篇文章提供了详细的方法和步骤，相信会对你有所帮助。总之，JTAG边界扫描技术不仅仅是一个测试工具，更是一个帮助你解决复杂测试问题的利器。

在后续章节中，我们将进一步探讨JTAG寄存器与扫描链，以及测试访问口（TAP）控制器的工作机制，敬请期待！