随着半导体工艺的发展，可测性技术成为每个芯片在设计中必须考虑的问题。如何高效和高质量地测试芯片中的内嵌Memory，成为DFT技术中的关键技术。针对rombist中的memory model的产生算法和结果做一个分析和总结，结合实际案例的具体分析和技术，希望对大家的面试和工作有帮助。