Xilinx公司的SRAM型FPGA应用了SEM（软件错误修复）技术，这种技术有效提升了配置RAM中单粒子软错误的检测和修复效率。尽管如此，SEM技术仍需要占用一定的逻辑和存储资源，这可能导致新的单粒子软错误发生。为解决这一问题，提出了一种基于SEM的FPGA抗单粒子翻转方案，并通过在XC7K410T型FPGA上的试验验证了其可行性。该方案结合了SEM在提升加固效率和延长平均故障时间方面的优势，同时避免了SEM模块内发生单粒子软错误的风险。