本书是“学习微电子设计的经典教材”、清晰完整版、带目录完整版,方便阅读,本人也是找了很久,内容简介如下: 《数字集成电路:电路、系统与设计(第2版)》是美国加州大学伯克利分校经典教材。《数字集成电路:
一、电压法判断数字集成电路好坏 1、如果数字集成电路的供电电压正常,焊接良好,而测得其电源引脚的电压值过低,则可判定该被测数字集成 电路已损坏。 2、如果测得数字集成电路电源电压引脚的
压缩成两部分,这是第一部分。《数字集成电路:电路、系统与设计(第2版)》是美国加州大学伯克利分校经典教材。《数字集成电路:电路、系统与设计(第2版)》分三部分:基本单元、电路设计和系统设计。在对MOS
这是清晰版的拉贝艾(Jan M.Rabaey)写的《数字集成电路——电路、系统与设计》
数字集成电路是指实现各种逻辑运算和数字运算的电路,它的输出与输人之间是一种逻辑关系。常用数字集成电路的类型如下。
实验32++数字集成电路版图提取,一个比较有用的资源
把常用的数字芯片的引脚图归类了下,比查找芯片手册用起来方便些
在超大规模集成电路设计中,门控时钟技术是最常采用的低功耗设计技术。然而,由于时钟信号的特殊性和敏感性,门控时钟设计极容易造成功能错误、时序恶化和测试覆盖率降低,针对这三方面的风险,提出多种门控时钟的优
可以测试大多数74系列芯片,12864显示,可以测试芯片通道好坏情况,在自己的开发板上调试通过,有注释。
74系列数字集成电路功能表大全及性能对比
用户评论