随着数字逻辑集成电路的广泛应用, 数字电路仪 器在电子设备中所占的比重越来越大, 对数字逻辑电 路的测试也日益重要。传统的示波器测量方法只能测 试不超过路的信号, 这对工作依赖于大量信号之间 时间关系的数字电路来说, 测试显得无能为力。本文 所介绍的数字逻辑测试仪, 与普通双踪示波器配用, 能 够同时测试路数字逻辑信号, 有逻辑波形和逻辑数 值, ”或“ ”两种显示方式, 并具有外部时钟输入和同 步信号输出端, 基本上可满足平常对数字逻辑电路进 行调试、逻辑分析和故障检修的测试要求。