# 半导体器件可靠性
微电子器件可靠性半导体
主要内容为：可靠性数学基础，可靠性定量表征，常用概率分布，可靠性数学模型，半导体体内及各界面间可能发生的各种失效物理过程。
半导体器件可靠性的电子书
本书是微电子专业的一本高价值的参考书，主要涉及到半导体工艺方面的知识及各工艺对半导体器件的影响。
全面解读半导体可靠性手册
《半导体可靠性手册》是半导体领域的重要参考手册，本文主要介绍其使用方法和内容要点。首先对半导体可靠性进行了简要介绍，然后分别介绍
半导体制冷片可靠性研究
半导体制冷用于电脑cpu降温,。影响热电模组可靠性的主要因素有:热电模组自身品质、机械设计(安装方式、粗糙度等)、热接触状态、湿
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高功率QCW半导体阵列的可靠性研究
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半导体可靠性测试标准JEDEC JESD201
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实现高可靠性电源的半导体解决方案
高可靠性系统设计包括使用容错设计方法和选择适合的组件,以满足预期环境条件并符合标准要求。 本文专门探讨实现高可靠性电源的半导
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开发IC让它能工作是一回事;而让它耐用就是另一回事了。随着新技术出现新的可靠性问题,后者变得越来越难。在封装之前,在晶圆上
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