# JEDEC-JESD201
半导体可靠性测试标准JEDEC JESD201
根据 JEDEC-JESD201 标准，通过对半导体常见瑕疵如锡须进行可靠性测试，确保半导体器件的长期性能和可靠性。同时，本文还
JEDEC标准JESD2201A
Universal Flash Storage (UFS) Unified Memory Extension.
JEDEC标准JESD220D
JEDECSTANDARDUniversalFlashStorage(UFS)Version3.0
JEDEC标准JESD220_2A
JEDECSTANDARDUniversalFlashStorage(UFS)CardExtension
JEDEC STANDARD JESD22_B116A
引线键合剪切标准，包括剪切方法，失效模式和剪切力判据等等，非常实用哦
EIA JEDEC STANDARD jesd51_1
Integrated Circuits Thermal Measurement Method - Electrical Test
JEDEC JESD204B_01英文
英文版版本日期：RevisionofJESD204B,July2011Thisspecificationdescribesase
Memory Configurations JESD21_C JEDEC Standards
JESD21-C,JEDECConfigurationsforSolidStateMemories,isacompilation
JESD2093B LPDDR3jedec spec
JESD209-3BLPDDR3jedecspec
JEDEC eMMC4.3Specification JESD84A43.pdf
JEDEC官方标准协议,Embedded MultiMediaCard (eMMC) eMMC/Card Product Sta