# 半导体可靠性测试
全面解读半导体可靠性手册
《半导体可靠性手册》是半导体领域的重要参考手册，本文主要介绍其使用方法和内容要点。首先对半导体可靠性进行了简要介绍，然后分别介绍
半导体可靠性测试标准JEDEC JESD201
根据 JEDEC-JESD201 标准，通过对半导体常见瑕疵如锡须进行可靠性测试，确保半导体器件的长期性能和可靠性。同时，本文还
微电子器件可靠性半导体
主要内容为：可靠性数学基础，可靠性定量表征，常用概率分布，可靠性数学模型，半导体体内及各界面间可能发生的各种失效物理过程。
半导体制冷片可靠性研究
半导体制冷用于电脑cpu降温,。影响热电模组可靠性的主要因素有:热电模组自身品质、机械设计(安装方式、粗糙度等)、热接触状态、湿
用于半导体可靠性的短脉冲强制性测试.pdf
开发IC让它能工作是一回事;而让它耐用就是另一回事了。随着新技术出现新的可靠性问题,后者变得越来越难。在封装之前,在晶圆上
半导体集成电路可靠性测试及数据处理
半导体集成电路可靠性测试及数据处理
半导体器件可靠性的电子书
本书是微电子专业的一本高价值的参考书，主要涉及到半导体工艺方面的知识及各工艺对半导体器件的影响。
可靠性测试
可靠性基础知识
可靠性测试
可靠性测试内容，讲述测试的方法、方案以及策略。有指导和参考意义，希望有所借鉴吧，呵呵
高功率QCW半导体阵列的可靠性研究
CEO制造生产了一系列的用于高功率QCW的阵列产品。这些产品采用热膨胀系数匹配热沉技术以及硬封装技术,进而最大限度的提高器件的可