# 功耗测试方法
射频低功耗测试方法
主要用于测试射频器件发射时的瞬时功率，测试对象比如蓝牙、WIFI、Lora等。
展锐功耗分解测试方法介绍
展讯平台芯片手机功耗拆解测试方法介绍
CC26xx低功耗测试方法
该文件介绍CCx26xx系列芯片低功耗的测试方法
生产制造中的低功耗测试方法
受无线和高功效器件的普及以及提供“绿色”电子系统的需求驱动,设计师越来越多地采用低功率设计来应对越来越艰巨的功能性功耗挑战。
WakeLocks功耗测试
Andorid功耗测试简解及当前Android功耗测试流行方法。
低功耗测试
物联网日益要求功耗越来越低越来越严格背景下采用是德科技公司研发最新技术和整套测试工具才能保证设计质量。
android功耗测试详解
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生产制造中的实用的低功耗测试方法
随着器件物理尺寸的不断缩小和电压门限的不断降低,越来越多的人认识到测试过程中过大的功耗会影响数字IC的可靠性,并导致电源引起的故
低功耗制造测试技术
本文将首先介绍动态功耗与测试之间的关系,以说明为何功率管理现在比以往任何时候都迫切;然后介绍两种独特的DFT技术,它们利用了AT
PCF8576功耗测试
PCF8576是PHILIPS公司生产的具有I2C总线的低功耗LCD驱动器,该芯片有40个段输出和4个背极输出,故可完成最大为4