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测试：就是检测出生产过程中的缺陷，并挑出废品的过程。测试的基本情况：封装前后都需要进行测试。测试与验证的区别：目的、方法和条件测试的难点：复杂度和约束。可测性设计：有利于测试的设计。

用于SoC设计的DFT和BIST，讲解了在SOC设计中需要考虑的可测性设计问题-SoCdesignforDFTandBIST,explainintheSOCdesignneedtoconsiderdesign-for-testissues