yanzidd50855

NandFlashVth随着P/Ecycle的增加发生的漂移测试是研究闪存可靠性的重要基础，本文介绍使用NFA100如何快速配置测试pattern进行闪存阈值电压测试。

非常详尽的介绍了MicronNandFlash芯片上的所有代码的含义，对于采购NandFlash以及使用MicronNandFlash的研发人员非常有意义。