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目前通讯电子产品的芯片、单板、系统的复杂度不断提高，物理尺寸却在不断缩小， JTAG电路的设计也随之成为关系到单板可测性、稳定性和可靠性的重要因素。JTAG测试接 口在集成电路工作时，可以控制管脚的状态，由于应用系统的干扰，可能使JTAG测试口出 现错误操作，从而影响芯片及其管脚的工作状态，造成芯片