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AEC - Q101: Failure Mechanism Based Stress Test Qualification For Discrete Semiconductors AEC_Q101-001A ;002(已退役);003A;004;005;006

AEC-Q100:FailureMechanismBasedStressTestQualificationForIntegratedCircuits12章节，其中第三、第6章节已退役

AEC-Q200:StressTestQualificationForPassiveComponents共7章节

本书全面讨论了系统的各个主要部分，从输入放大器到数字输出。本书详细考察了信号链中的每个元件，包括信号调理、放大、多路复用、数据转换和支持电路，比如采样保持和基准电压源。本书还讨论了许多常见应用。概要(pdf)第1部分：精密传感器信号调理和传输(pdf)第2部分：多路复用模拟开关信号(pdf)第3部分

WPC最新版QiV1.2.4共四部分Parts1and2:InterfaceDefinitionsPart3:ComplianceTestingPart4:ReferenceDesigns