kikoi
这家伙很懒，什么也没写
Semiconductor Material and Device Characterization
第三版，涉及：电阻，载流子浓度和掺杂密度，接触电阻和肖特基势垒，串联电阻和沟道长度宽度，阈值电压，缺陷，氧化界面，载流子寿命和迁移率，光学特性，化学物理特性，以及可靠性等多方面问题的研究，是一本优秀的国外半导体物理教程
专业指导 30 0 PDF 2019-07-08 19:07:53
MIT heattransfer
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CompactMOSFETModelsforVLSIDesign_2009
2009年最新版的关于MOSFET的集约模型，在超大规模集成电路设计中起重要的指导性数目
专业指导 15 0 RAR 2019-02-21 07:02:08