扫描设计是一种广泛采用的可测性设计方法。在采用扫描设计的电路中，扫描单元及其控制电路芯片面积可能占到30%，引起的故障总数可能占到50%。因此扫描链的诊断对于逻辑诊断具有重要的意义。本文综述了在采用扫描结构的集成电路中，扫描链的诊断方法。一类方法采用了可诊断性设计（Design For Diagnosis， DFD），类似于可测试性设计。可诊断设计在扫描结构当中加入额外的硬件电路，以提高扫描链的可观测性或者可控性。另一类是软件诊断方法，通过施加诊断向量观察故障输出，利用算法推测故障位置。最后介绍了一项由本实验室提出的采用了可诊断设计的扫描链结构，它不仅可以精确地诊断扫描链故障，还可以在容忍扫描