可测性设计技术

传统的芯片设计日程需要进行综合门级仿真以开发 ATPG、BIST 或功能图形，Veloce DFT App 令其实现了真正的“左移”改进。它能在合理时间内运行完整的 DFT 验证图形，从而缩短图形开发

本文介绍了综合在逻辑设计中的重要作用及其相关概念。针对综合过程，总结出了编写可综合模型要遵守的原则，并通过几个例子，来说明违反这些原则如何会导致验证时功能上的不一致。

随着微型化程度不断提高，元件和布线技术也取得巨大发展，例如BGA外壳封装的高集成度的微型IC，以及导体之间的绝缘间距缩小到0.5mm，这些仅是其中的两个例子。

对于电子产品设计师尤其是线路板设计人员来说,产品的可制造性设计(Design For Manufacture,简称DFM)是一个必须要考虑的因素,如果线路板设计不符合可制造性设计要求,将大大降低产品的

VB.NET可伸缩性技术手册(PDG)!!!!!!!!!!

开发人员常常被寄予厚望——创建出健壮的符合业务要求的应用程序。但当前，创建高可伸缩性的应用程序的需求越来越普遍。.NET的引入大大提高了VB开发人员使用面向对象技术开发可伸缩的n层应用程序的能力，本书

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电路的可靠性、可制造性设计与仿真及调试，电子电气工程师必知必会

0引言基于极零点灵敏度的分析方法与基于频域的灵敏度分析不同,不需要计算频域任意范围内的每一点的灵敏度,同时克服了分析幅频特性和相频特性的问题。其特点决定其在模拟电路分析和测试中有极大的应用空间。模拟电

一类退化抛物方程有界可测解的唯一性，刘强，王春朋，本文研究一类退化抛物方程有界可测解的唯一性，这类方程允许是强退化的．我们在一类很广的函数空间即有界可测函数空间中证明了这