0 引 言 现代测量系统中,传感器的工作性能直接影响整个系统。由于受外界因素的影响,传感器大多具有非线性特性,致使测量仪表或系统的输入与输出之间不能保证很好的线性关系。除了采取硬件补偿电路外,对于软件补偿算法的研究受到更多的重视。由于受数据总线宽度和工作频率的影响,软件算法补偿的研究更多是在计算机上仿真实现的,而现场的测量系统往往建立在单片微处理器的基础上。微电子技术的迅速发展,使得集成电路设计和工艺技术水平得到很大的提高,片上系统(system on a programma-ble chip,SOPC)技术把系统的处理机制、模型算法和电路设计紧密结合,在单片芯片上实现复杂系统的全部功能