论文研究基于SVM的绝缘子芯棒缺陷图像分类研究 .pdf

基于稀疏表示分类的图像检索方法，付海燕，赫然，传统的图像检索基于底层图像特征的相似性，采用K邻近法进行检索排序。由于语义鸿沟的存在，底层图像特征会影响检索结果的准确率��

改进的基于SVM决策树的多分类算法，刘靖雯，王小捷，标准的SVM是针对两类的分类问题，如何将两类问题推广到多类问题上，是目前研究的一个热点。本文提出了一种改进的基于SVM决策树的多

一款Android应用程序,旨在根据STRI疏水性标度选择和分类绝缘子的图像。 目前,该应用只能在android上运行,准确性较低。 将做进一步的工作来程序分析图像的一部分,而不是立即分析整个图像。

从正交缺陷分类(orthogonaldefectclassification，ODC)出发，介绍在缺陷度量前需要收集的缺陷数据信息，阐述了缺陷属性的具体分类，然后从单维度和多维度两个角度介绍了如何利用

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