一种基于受控线性移位的测试向量生成方法,刘铁桥,邝继顺,内建自测试(BIST)作为研究应用最广泛的可测试性设计(DFT)是解决复杂的VLSI测试问题的比较好的方法。BIST方案的关键在于测试向量产生器