SiC纳米线弯曲变形下的电学性能研究

xuanqingguoguo 11 0 PDF 2020-07-18 17:07:44

SiC纳米线弯曲变形下的电学性能研究，高攀，王疆靖，在透射电子显微镜下，利用纳米操控系统对单根SiC纳米线进行了系列操控，包括单根纳米线的选取、固定、应变加载等，并对其电学输运