基于白光干涉术的厚膜几何参数测试

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基于特征的参数化CAD系统中非几何特征信息的获取，刘计娟，，在对零件特征分析的基础上，说明非几何特征信息的重要性，并通过Pro/TOOLKIT对参数化特征造型系统Pro/E进行二次开发，完成非几何特征

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利用劈尖的等厚干涉测液体的折射率

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可采用任意未知相移的广义相移数字全息干涉术

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