本文侧重于详细考察与PLL相关的两个关 键技术规格：相位噪声和参考杂散。导致相位噪声和参考杂 散的原因是什么，如何将其影响降至最低？讨论将涉及测量 技术以及这些误差对系统性能的影响。我们还将考虑输出漏 电流，举例说明其在开环调制方案中的重要意义。