在芯片开发过程中，调试就要耗费50%左右的开发时间和精力，这是一个不争的事实。调试被认为是半导体芯片设计与验证行业面临的最棘手挑战之一。   本文将全面分析低功耗设计和验证面临的各种复杂调试问题。我们将借助相关示例来说明如何避免或轻松解决这些问题。本文还会重点讨论一些低功耗设计可避开的常见陷阱；如不避开，这些陷阱可能引起难以在设计后期调试的复杂低功耗问题。