单片机课程设计-IIC总线式EEPROM存储器应用设计
在SOC设计中，嵌入式存储器内核的测试需要平衡峰值电流、IR降、组大小等多个因素。BIST优化设计不仅要考虑测试时间，还要关注区域占用、布线长度以及资源消耗等问题。测试过程中，每组的测试时间由组内最深
存储器管理.可变分区式存储 很容易的啊 大家分享吧啊 ~~
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