CPLD 应用中计数器竞争2冒险现象的一种消除方法

摘 要:现场可编程门阵列(FPGA)由于其内部构成,容易引起竞争冒险现象,从而使电路工作的稳定性大受影响,电路也容易产生误动作,以致产生意想不到的后果。本文详细介绍了冒险现象的产生,并结合实例介绍了消

教你怎么使用multisim做数电的仿真实验，mlitisim7,multisim8,multisim10都适用。

电路设计方案

2线-4线译码器中的竞争-冒险现象实验电路multisim源文件,multisim10及以上版本可以正常打开仿真,是教材上的电路,可以直接仿真,方便大家学习。

摘要:“过饱和”现象的实质是CCD 输出电信号过强而造成的放大失真。文中针对 “过饱和”现象,设计了单镜头双CCD 结构,此结构运用标准CCD 与校准CCD 相结合的双重保障,通过程序对标准CCD 和

FPGA计中由于延迟产生的冒险现象分析及消除

本文详细介绍了竞争冒险产生的原因及消除办法。

组合逻辑电路中竞争冒险的分析

通过对电气控制回路中竞争与冒险问题的实例分析,揭示了问题的隐蔽性和可能产生的后果,提醒电气从业人员对该问题应引起足够重视,及时总结经验,改进设计原理,提高电气控制系统的可靠性工作效率和质量。

本文从FPGA的原理结构的角度探讨了产生毛刺的原因及产生的条件,在此基础上,总结了多种不同的消除方法,在最后结合具体的应用对解决方案进行深入的分析。