基于FPGA的智能控制器设计及测试方法

由于FPGA在智能控制器方面的大量使用,设计后的测试便成了设计者在开发过程中必须重点考虑的问题,同时,一种好的测试方法不仅能及早发现设计中存在的问题,而且能提高设计的可靠性。目前基于VHDL描述的智能控制器测试一般是通过开环时序仿真来验证其逻辑设计的正确性,而对于一些输入激励信号不固定或比较多的智能控制器来说,开环时序仿真并不能确切模拟控制器的激励输入信号。由此,本文在开环时序仿真的基础上提出一种基于QuartusII、DSP Builder和Modelsim的闭环时序仿真测试方法,并借助于某一特定智能控制器的设计对该闭环测试方法进行了较为深入的研究。