自动测试设备加流测压及加压测流的设计

半导体业正在逐渐变换到纳米制造工艺。纳米技术带来巨大的好处:几乎可以自由地增加晶体管数。另一方面,CMOS工艺已发生显著地变化,因此,纳米SOC出现新型的制造缺陷。第一个问题是在高频时会增加定时失效数

摘要：复杂的电子设备测试变化很大，从最简单的类型——手动测试——到最复杂——大型自动测试设备（ATE）。在之间简单的手动测试和大规模ATE在于低预算和中型测试，是此应用程序说明的重点。这些类型的测试系

Qt开发的通过串口指令自动测试硬件设备的工具,发送预设的指令,并自动解析收到的回复是否满足要求,判断该功能项是否正常,否则提示红条以及显示原因。可用于产线或者其他测试硬件主板功能,需要设备软件支持相应

集成电路自动测试方法及可测性设计研究,讲述集成电路的自动化测试方法与原理

通用自动测试设备（ATE）接口介绍,是一个简单而有用的介绍，尤其是对初学者。

现在的测试电路需要更多的电力进行操作,而且电压/电源要求的范围很广。与此同时,测试仪器需要的不仅仅是功率,而且要能够快速准确地调节各种电压轨,以完全表征一个被测设备的模拟分区。先进设计的VSLI或者S

介绍了电台自动测试系统的设计与实习。现象讨论了自动测试软硬件和故障诊断设计。

阐述了某型导弹发控设备自动测试系统的设计思想、硬件组成和软件设计。系统采用基于网络数据采集卡的虚拟仪器结构,实现了对某型导弹发控设备的自动测试,具有较高的可靠性、可维修性和良好的使用性。

autotest:自动测试-Linux上的全自动测试

摘要：电子设备测试的复杂性差别很大，从最简单的类型，手动测试到最复杂的大型自动测试设备（ATE）不等。在简单的手工测试和大型的ATE之间在于低预算和中等规模的测试，这是本应用笔记的焦点。通常这些类型的