工业电子中的基于PMAC控制卡的激光扫描尺寸测量系统
引 言 在机械加工中经常需要对一些简单的几何尺寸,如直径、边距等进行测量。这类工作重复性大,工作量大,传统的手工测量不仅增加了现场工作人员的工作强度,精度低,且手工测量的数据在统计处理时也很不方便。这类工作如果使用坐标测量仪等精度高,通用性强的仪器测量,在经济和效率上都很难满足要求。另有一种专门的激光扫描传感器可用于此类测量,但其测量精度是建立在对独立运动系统速度的精确控制上的,这无疑增加了成本。为了方便实现对这类简单、一维尺寸、高效、高精度,且易于数据管理的测量,在此提出一种可在PMAC控制卡控制的普通运动平台上实施激光扫描测量的系统。它融合了以上两种测量方法,即通过对激光信号的检测获
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