边界扫描原理剖析 边界扫描技术的核心思想是在器件内部的核心逻辑与I/O引 脚之间插入的边界扫描单元,它在芯片正常工作时是“透明”的,不影响电路板的正常工作。各边界扫描单元以串行方式连接成扫描链,通过扫描输入端将测试矢量 以串行扫描的方式输入,对相应的引脚状态进行设定,实现测试矢量的加载;通过扫描输出端将系统的测试响应串行输出,进行数据分析与处理,完成电路系统的故 障诊断及定位,边界扫描测试原理示意图如图1所示。 边界扫描测试的物理基础是IEEE1149.1边界扫描测试总线和设计在器件内的 边界扫描结构,标准的边界扫描结构如图2所示。其中边界扫描测试总线由测试数据输入(TDI)、测试数