测量需求解决方案企业美国吉时利(Keithley)仪器公司,日前发布ACS(Automated Characterization Suite)自动特征分析套件集成测试系统。该测试系统实现器件级、圆片级和黑盒级半导体特征分析工作。ACS测试系统通过统一软件套件,提供更快测量速度和更大系统灵活性,以满足用户独特的测试应用需求。 在统一自动特征分析套件中、吉时利ACS集成测试系统整合各种测试硬件,具有全面而独特的测量能力: 吉时利强大的4200-SCS半导体特征分析系统具有I-V源测量功能和专业脉冲测试工具包,例如用于先进半导体材料测试的4200-PIV工具包。 260