电子测量中的A/D转换芯片的测试环境构成及测试方法

摘要:介绍了通过Labview编程环境,运用系统集成的方法,集成具有GPIB接口的测试设备,实现数字电路测试系统向混合信号测试向扩展的方法。并阐述了A/D转换芯片的几种主要测试方法:柱形图分析法、离散参数傅立叶变换法、拍频测试法等的基本原理及实现方法。 关键词:集成电路测试 混合信号测试 系统集成 所谓的混合信号测试,是指对A/D、D/A、锁相环等兼有数字和模拟两种信号的混合电路芯片的测试。混合信号测试的测试时间长、费用高、测试系统结构复杂,在实现上具有一定难度。而数字电路测试系统有着出色的测试能力,如足够的向量深度、灵活的数据格式、常规的交直流参数测试能力等。添加必要的程控模拟源以及模拟