基于行扫描的点状缺陷检测

讨论了实际工业生产中点状缺陷的实时检测问题,提出一种基于嵌入式的一维缺陷检测方法。首先通过行灰度信息的变化定位缺陷位置,并针对缺陷处于特定位置、图像有噪声、光照不足或过度等特殊情况提出了改进方案,实现了点状缺陷的实时监测。实验结果证明,该算法具有准确性和有效性。