多层胶接结构固化特性太赫兹多元特征统计分析

基于太赫兹时域光谱技术对胶层的固化特性进行分析,研究胶层的消光系数与折射率在固化周期内的变化趋势。利用高斯曲线拟合后的多层胶接结构能量积分值、飞行时间(TOF)的均值和半峰半宽两个特征值来表征多层胶接结构的固化特性。结果表明,固化96 h后,两个特征值的统计结果逐渐稳定。胶层的消光系数和折射率有相同的变化趋势,证明胶层固化在96 h左右基本完成。采用的能量积分值与TOF两个特征值可以间接地作为胶接工艺中固化终点的评价指标,进而提高了材料检测水平。