髙斯随机测量矩阵作为基于稀疏性的“鬼成像”(ghost imaging via sparsity constraints, GISC) 技术中较常用的测量矩阵,已得到广泛研究。但已有工作均是从理论或数值模拟角度上探究标准的零均值高斯测量矩阵的成像特性,并且尚未给出对应的实验论证。此外,由于光强为非负数,在实际应用中碰见的均为均值大于零的准高斯随机测量矩阵情形,因而分析一般均值和标准差形式的高斯随机测量矩阵对成像质量的影响显得尤为必要。