利用一种特殊的相位龙基光栅和偏振相移技术,可同时获得四幅具有不同相移的干涉图,由此可计算出被测物体的全场相位分布,从而实现对动态过程相位的测量。将该方法应用于马赫-曾德尔干涉系统和散斑干涉系统,分别测量了液体的折射率变化和固体的离面位移,给出了实验结果。