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本文针对集成电路的常用检测方法和常用集成电路的检测进行了归纳总结,供读者参考。
不在路检测:这种方法是在ic未焊入电路时进行的,一般情况下可用万用表测量各引脚对应于接地引脚之间的正、反向电阻值,并和完好的ic进行 较。
迅速发展的射频集成电路为从事各类无线通信的工程技术人员提供了广阔的前景。如果RF电路的地线处理不当,可能产生一些奇怪的现象。
描述了集成电路技术近几十年来发展及分别详细介绍7种工艺技术的发展
芯片包装指包裹于硅晶外层的物质。目前最常见的包装称为 TSOP(Thin Small Outline Packaging) ,早期的 芯片设计以 DIP(Dual In-line Package) 以
集成电路常用的封装图,内容包括SOP DIP QFN TO-92 TO-252 SOT-223等一些封装的外观图
美国加利福尼亚大学劳伦斯利弗莫尔国家实验室物理学家所发展的一项新技术如获成功,那末激光制造微型集成电路的技术立即可以得到简化。这项新技术可以废除诸如掩模和光敏材料等许多制造微型集成电路所需要的器具。
本文介绍了集成电路的代换技巧及原则。
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浅谈CMOS集成电路的应用 本资源为学术论文,供大家免费下载使用 作者:尹 利 曹卫刚 王晓欢
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