TRL微波器件测量去嵌入校准原理详解
前言:该教程是本人2012年跟安捷伦工程师讨论微波器件去嵌入技术时准备的,当时讨论主题如何解决去嵌入算法频率限制问题(已申请),现在摘取其中TRL算法原理部分,重新整理与大家分享。微波测量中常用的校准方法有两种:· SOLT校准,即短路-开路-负载-直通校准,适用同轴接头测量,如衰减器、低噪放等。通过测量1个传输标准件和3个反射标准件修正12项误差模型。· TRL校准,即直通-反射-延时校准,适用非同轴接头测量,如微带线、共面波导等。通过测量2个传输标准件和1个反射标准件来决定8项误差模型。相比SOTL 而言,TRL由于校准件制作成本低、校准精度高等优点而得到广泛的应用。下面首先对TRL校准算
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