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可重组制造单元建模及其性能分析,谢楠,李爱平,可重组制造单元可根据市场变化进行组态调整和组件升级,系统的建模与分析方法必须能适应制造单元动态重组的特点。为揭示可重组制
DFT可测试性设计软件(TeboTAV5.0)简介
ASIC芯片是一种高度定制化的电路板,由于其复杂的结构和功能,其测试技术也格外重要。本文将介绍最新的ASIC可测试性设计技术,包括布图测试、逻辑仿真测试、边界扫描测试等。通过这些技术的应用,可以提高A
最近的统计数据表明:制造完成后,测试芯片是否存在制造缺陷(与不存在设计缺陷相比)的成本已增至制造成本的 40%。以上诸多因素推动了电子行业能够想方设法在设计阶段就将可测试性置入芯片,从而降低测试成本。
我们研究了布尔可满足性问题(SAT),该问题受限于存在线性关系的输入公式对同一子句中出现的变量的索引施加算术约束。 这可以看作是结构性的Schaefer二分法定理的对应部分,该定理研究SAT问题,对赋
可靠性是另一关注的重点。目前,环球仪器SMT工艺实验室正在进行的另一个项目就是堆叠装配可靠性研究。从目前采用跌落测试的研究结果来看,失效主要发生在两层元件之间的连接。位置主要集中在元件角落处的焊点。失
质量。缺陷。可测试性。 主要介绍以下相关内容: 1、测试驱动开发(TDO); 2、代码的可测试性; 3、设计的可测试性; 4、需求的可测试性; 5、软件可测试性框架
完全按照国务院办公厅对政府网站普查要求的技术参数设计,可实现多站点连续或间隔性访问监测。
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