射频集成电路测试第十一讲射频电路测试原理第十一讲逻辑分析仪(LA)leiyh@mail.tsinghua.edu.cn参考文献Agilent仪器说明书16702B_逻辑分析系统\ServiceGuide_16700-97015.pdf..\HelpVolume_16700AB_5988-9058EN..\LogicAnalysisSystemModules_5988-9439EN..\16700Catalog_5968-9661E..\16702BFrontPanel_B3760-92003..\ProbingSolutions_5968-4632E..\InstallationGuide_16700-97023..\LAN16702BhelpVolume..\TrainingKit_16700_970202射频电路测试原理清华大学电子工程系李国林雷有华2005春季学期内容11.1逻辑分析仪的基本结构11.2逻辑分析仪的基本原理11.3定时分析和状态分析11.4模式发生器11.516702B触发系统综述11.6进行基本测量第五次实验逻辑分析仪的使用第十一讲逻辑分析仪小结3射频电路测试原理清华大学电子工程系李国林雷有华2005春季学期11.1逻辑分析仪的基本结构前面讨论了用于时域、频域、调制域的测量仪器,逻辑分析仪
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