我们使用STM32实现了JTAG时序模拟，并能测试BYPASS指令，读出ID以及读出IO状态。通过该技术，我们可以更好地掌握边界扫描技术，并深入地了解它在芯片测试中的应用。源工程、源文件、参考PDF和BSDL文件皆附上。