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测量外延层中杂质分布及肖特基二极管自建势的二次微分法1978年

一、简述外延层中的杂质分布是现代半导体器件设计中的一个重要参数。在微波,高速、高反压等器件中,杂质分布的情况如何,将直接影响器件的有效工作。六十年代,外延工艺的问世使器件性能有了一个很大的提高。外延工艺的进展对半导体材料的检验工作提出了越来越高的要求,大大地促进了外延分布的测试技术的进展。主要问

其它 11 0 PDF 2021-05-22 08:05:41

有毒物影响和自食的阶段结构种群模型的正周期解2012年

建立了具有毒物影响和自食的阶段结构捕食模型,讨论了这一系统解的非负性.利用重合度理论中 Gaines和Mawhin’的延拓定理,得到了该系统正周期解存在的充分条件,改进了Aiello和Freedman的相关结果.

其它 5 0 PDF 2021-05-11 16:05:47

5G无线网络的系统级仿真和性能评估面临的挑战

随着长期演进/ 4G蜂窝网络的评估和仿真以及有关5G新技术或网络架构的热烈讨论,迫切需要出现5G仿真和评估准则。考虑到新兴的新技术和网络架构,本文分析了构建5G仿真平台的挑战。基于针对4G候选人发布的评估方法的概述,提出了5G评估中的挑战。此外,提出了基于云的两级系统级模拟器框架,以验证候选技

其它 11 0 PDF 2021-05-09 02:05:20

Micron Technology推出业界首款1.7μm像素图像传感器

Micron Technology公司推出业界首款1.7μm像素图像传感器,其微小的像素尺寸使移动和消费应用具有更高的分辨率和更小的尺寸,提高了医疗、生物测定及高速移动应用的性能。该产品采用了DigitalClarity技术,具有更好的低光照明性能、颜色更保真、动态范围更大、温度性能和帧速率更

其它 4 0 PDF 2021-05-04 13:05:33

ASUS华硕AI Charger智能充电软件For WinXP XP64Vista Vista64Win7Win764驱动程序下载

【驱动名称】ASUS华硕AI Charger智能充电软件1.00.19版For WinXP/XP-64/Vista/Vista-64/Win7/Win7-64(2011年1月1日发布) 【驱动描述】虽然苹果iPad尚未进入国内,但是身边拿着iPad的人却明显越来越多了。关于这个尚属新鲜的东东,自然少

其它 7 0 RAR 2021-05-02 19:05:15