晶圆缺陷检测与分类的卷积神经网络;针对晶圆检验时扫描电镜图像的缺陷检测和缺陷分类两问题,采用了“ZFNet”的卷积神经网络来分类晶圆缺陷,并基于该分类器实现了一种“基于块的卷积神经网络”缺陷检测算法。为了提高准确率和加快速度,又改动“更快的区域卷积神经网络”实现了另一种检测算法。