引入布尔差分的思想,对被测电路函数的BDD结构进行判断生成测试向量。本方案较传统的以图进行搜索的ATPG方法有效地减少了时空开销,并将布尔差分的理论方法应用于实际。实验表明,本方案可以有效地进行测试生成。