本文报道的工作旨在更好地理解磁掺杂对一系列YBa2（Cu1-xCox）3O7-δ陶瓷的结构和电性能的影响。 通过常规固态反应方法制备Co掺杂的YBa 2 Cu 3 O 7-δ（YBCO），并通过X射线衍射（XRD）和扫描电子显微镜（SEM），差热分析（​​DTA）和电阻率测量来表征。 发现晶格参数由于钴掺杂而改变，并且具有从正交晶向四方晶转变为结构相的趋势，这可以通过正交晶化程度的降低来证实。 SEM的形态学检查表明，随着x = 0.02 Co，晶粒尺寸逐渐增加，与纯样品相比，掺杂样品中观察到高孔隙率。 YBCO的分解温度从975°C以上的温度提高到945°C的较低温度。 x = 0.04和0