针对电路测试点优化问题，研究了相关性模型和信息熵理论，在对相关性模型进行改进的基础上，建立了基于信息熵的电路测点优化策略，给出了具体的计算步骤。应用实例表明，该方法是有效的，可应用于模拟、数字和混合信号电路的故障检测及可测试性设计。