现在,边界扫描技术可用于以器件为中心方式的测试中,使得在开发、调试和生产测试环境中采用JTAG(联合测试行动组)测试技术。JTAG技术是指每个器件引脚的测试点都建在器件内,并把这些测试点连接到5-Wire串行总线上。可以在简单的PC机上进行测试开发和执行测试。这种测试技术的特点是:·PC成为完整的测试系统;·成本低,开发时间短及通用硬件。随着元件封装密度继续增加,测试和调试的物理接入正在减少。几年前就预见JTAG边界扫描测试能解决此问题,但是,当时只有少量器件符合JTAG。现在,解决测试接入问题已取得进展,用JTAG作为解决问题的技术,正在使人们更加关注,使得半导体厂家在不断地推出JTAG依从